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        2022芯片高低溫恒溫恒濕試驗箱溫度循環(huán)測試

        簡要描述:

        2022芯片高低溫恒溫恒濕試驗箱溫度循環(huán)測試
        立式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行溫度、濕度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

        型號:THE-225PF 瀏覽量:1026
        更新時間:2023-10-23 是否能訂做:是

        2022芯片高低溫恒溫恒濕試驗箱溫度循環(huán)測試

        型號;THE-150PF

        溫度范圍:-70~+150℃

        外部尺寸:500*500*600

        內部尺寸:770*1220*1610

        濕度范圍;20~98%

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        2022芯片高低溫恒溫恒濕試驗箱溫度循環(huán)測試

        ? 箱體內膽采用優(yōu)質SUS304不銹鋼拉絲板制成,外殼采用寶鋼鋼板噴塑。也可定制(外殼采用優(yōu)質SUS304不銹鋼拉絲板)

        ? *的BTC平衡調溫方式,穩(wěn)定平衡的加熱能力,調節(jié)理想溫度環(huán)境,進行高精度高穩(wěn)定的溫度控制  

        ? 加濕方式采用外置隔離式鍋爐蒸汽的方式加濕;

        ? 具有隨溫度的設定數(shù)值自動選擇運轉制冷回路的功能,操作簡單

        ? 設有中空特制耐高、低溫導電加熱玻璃視窗,高亮度冷光源飛利浦照明燈,可隨時觀察樣品情況

        ? 控制系統(tǒng):進口高精密液晶觸摸儀表,可直接編程和固化曲線,進口執(zhí)行電子元器件

        ? 箱內密封條采用耐高低溫的進口硅橡膠制成,密封保溫性能優(yōu)良

        ? *的制冷系統(tǒng)。

        ? 移動腳輪:耐磨無聲移動、帶剎車功能。

        ? 多種安全保護裝置:超溫、超壓、相序、電機過熱過載等保護。


        國家標準符合;

        1. GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 低溫試驗方法

        2. GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法

        3. GJB150.3A-2009 高溫試驗方法

        4. GJB150.4A-2009 低溫試驗方法

        5. GB2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法

        6. GBT2424.5-2006 溫度試驗箱性能確認

        7. GB/T10586-2008 低溫試驗箱技術條件

        8. GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 恒定濕熱試驗方法

        9. GJB150.9A-2009 濕熱試驗方法

        10. G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 交變濕熱方法

        11. GB/T5170.18-2005 試驗設備基本參數(shù)檢定方法

        12. GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件

        13. GBT2424.6-2006 溫度濕度試驗箱性能確認

        14. GBT2424.7-2006 (帶負載)溫度試驗箱測量


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