冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱可編程

冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱可編程

技術(shù)參數(shù)：

1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-60℃/-70℃～+150℃

2、 溫度上限：+170℃

3、 溫度下限：-70℃

4、 溫度偏差：±2℃

5、 溫度波動(dòng)度：±0.5℃

6、 溫度恢復(fù)時(shí)間：5min

7、 溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)  

9、試品重量：≤3kg

10、高溫室升溫時(shí)間：30min （+25℃～+170℃）

11、低溫室降溫時(shí)間：65min （+25℃～-55℃）

12、噪音：（dB）≤65

13、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護(hù)接地

14、總功率：13KW

冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱可編程

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B
6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N
7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

8. 國(guó)GJB150.3-86
9. 國(guó)GJB150.4-86    

10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 　

11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法