半導體桌上型恒溫恒濕試驗箱 36L SM系列

半導體桌上型恒溫恒濕試驗箱 36L SM系列

臺式恒溫恒濕試驗箱性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求

半導體桌上型恒溫恒濕試驗箱 36L SM系列

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
二、產品用途:
臺式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行恒定試驗的溫濕度環境變化后的參數及性能。

性能指標:    
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.濕度范圍：85～98％R.H
5.濕度偏差：±3%R.H
6.濕度波動：±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度：設定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；濕度：設定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H
5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min 

執行與滿足標準
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件；
2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件；
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件；
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗Ca；
5.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環試驗；
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環試驗。